70nm 초고해상도 교정 샘플(foraFM, SEM, Auger 및 FIB)

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개요

70nm 초고해상도 교정 샘플(for AFM, SEM, Auger 및 FIB)

제품 정보

줄무늬70nm간격, 1차원 정렬, ±까지 정확0.25nm. 인증서와 그렇지 않은 두 가지 범주를 나눕니다.인증서가 있는 간격은 인증서의 실제 숫자를 참조해야 합니다.초고해상도 현미경을 위한 정확한 홀로그램 스트라이프 (25kx-1000kx의)의 수평 방향의 정확한 교정 및 나노미터 척도상의 정확한 교정 기기 등등.높은 안정성과 높은 적합성을 제공합니다.

실리콘 크기:4×3×0.5mm의, 패턴 이산화규소 제조(척추 폭35nm높이35nm, 이 매개 변수는 교정되지 않았습니다.)

두 가지 모델로 제공됩니다.모형 70-1D화모형 70-1DUTC. 의모형 70-1D표본 교정,제조업체 인증 포함,근원을 거슬러 올라갈 수 없다;모형 70-1DUTC표본 교정,인증,추적 가능,인증서 제공 (PTB, NIST의 독일 대응）。

주문 정보:

상품 번호	제품명	규격
80127-1D	모형 70-1D, 교정 표준, 장착되지 않은	개
80127-1D-X는	같은 상, 핀 샘플대가 있는 것을 제공할 수 있다;또는 특별 공급AFM은의 (15mm스테인리스강디스크）；또는 지정 견본대	개
80127-1DC는	모형 70-1DUTC, 인증서,제거	개
80127-1DC-X는	같은 상, 핀 샘플대가 있는 것을 제공할 수 있다;또는 특별 공급AFM은의 (15mm스테인리스강디스크）；또는 지정 견본대	개

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