Autosorb-iQ-C 전자동 물리/화학 흡착 분석기

기기 소개:

Autosorb-iQ-C는 세계 최초의 동적/정적 2합일의 전자동 물리/화학적 흡착 분석기(즉 촉매 전체 분석 시스템)이다.고감도 열전도 검출기 (TCD) 와 결합하여 전자동 동적 또는 정적 화학 흡착, 표면적 및 공극도 분석을 할 수 있으며, 제자리 진공 탈기를 실현하고 전화학 흡착 분석을 할 수 있는 유일한 기기이다.

기술 매개 변수:

이 분석기는 전자동 작동으로 진공 부피 측정, 기체 물리·화학 흡착 측정이 가능한 시스템으로, 높은 기류 통과율과 저렴한 비용으로 한 샘플을 측정하면서 다른 두 샘플을 독립적으로 탈기 조작할 수 있다.이 시스템은 비석, 활성탄 등 미세한 구멍을 가진 물질의 특성을 포괄적으로 측정하는 데 사용될 수 있다.이 시스템은 필요한 흡착 및 탈착 데이터를 생성하여 아래 항목에 나열된 모든 테이블 면적 및 관련 매개변수를 식별하고 제공합니다.이 시스템은 화학 흡착을 위한 현지 샘플을 준비하고 자동으로 화학 흡착 측정을 진행해 샘플의 촉매 특성을 표현할 수 있다.
1. 등온선: 사용자가 지정한 목표 압력에서 데이터 점의 개수를 선택할 수 있습니다.
2.BET 비표면적: 단일점, 다점, 기울기, 절취, 상수"C", 상관계수.
랑모르 표면적: 다점, 경사, 절취, 상관계수.
3. BJH 공경 분포: 부피, 면적, 흡착, 탈착, 누적, 유도(선형화 및 취대수), 보간값.
4. Dollimore-Heal 공경 분포: 부피, 면적, 흡착, 탈착, 누적, 유도: (선형화 및 취대수).
5.Dubinin-Radushkevich 마이크로 구멍 면적: 기울기, 절단, 상관 계수, 평균 구멍 지름, 마이크로 구멍 볼륨, 평균 흡착 에너지.
6. 총 구멍 볼륨: 사용자가 선택한 옵션 P/P0
평균 구멍 지름: 반지름, 지름.
8. 벽 두께 통계(t-커브): de Boer, Halsey 또는 카본 블랙 모델
9.t법: 미공 표면적, 중공 표면적, 미공 부피, 상관계수.
10.미공 공경 분포: MP, HK, SF, DA, 밀도 함수 이론(NLDFT)
분형 차원: Neimark-Kiselev(NK), Frenkel-Halsey-Hill(FHH)
12.화학적 흡착 등온 곡선: 합성 (첫 번째), 약한 흡착 (중복 가능) 과 강한 흡착 (차치) 등온 곡선과 윤곽.
13.단일 오버레이의 외삽: Langmuir, Tempkin, Freundlich, 분류.
14. 활동성 (금속) 표면의 경우 화학 계량법과 금속 표면을 선택할 수 있다.
15.금속 분산도 (백분율).
16. 평균 결정 크기 (입상 물질의 경우)
17.흡착열 (전체적 및 분리적)
18.TPD/TPR/TPO(옵션, 질량 스펙트럼 또는 TCD에 연결)

주요 특징:

- 흐름 동적 프로그램 온도 상승, TPD/TPR/DPO 측정, 펄스 적정법으로 촉매 특성 분석(활성화 면적, 금속 분산 작용 등)
- 화학적 흡착 등온선의 측정 및 분석 단분자층 피복량, 활성(금속) 표면 분산도, 평균 미결정 입자 크기, 흡착열 등

- 동적 프로그램 온도 상승 및 화학적 흡착 등온선의 측정 빈틈없는 도킹, 촉매의 특성을 전면적으로 표징
- 표면적과 공극도 등 물리적 흡착 전체 분석 능력으로 분자체, 활성탄소, 이산화규소 등에 대해 초저압 가스 흡착 분석을 완료하여 미공 분포 특성 및 개공 공경 분포를 측정할 수 있음
- 유동 또는 진공 조건에서 현장 샘플 제조
- 고온 예비처리로(1100C)와 전 과정 순서화 가스 전환 및 온도 상승으로 최대 다기능성, 각종 실험 수요 충족
- 질량 스펙트럼과 함께 사용할 수 있으며, 질량 스펙트럼 검출기는 TCD와 함께 TPR/TPD 측정을 동시에 수행하여 촉매 활성의 정성 및 정량 분석을 완료할 수 있음
- 내장형 증기발생기
- 분리막 펌프 및 공기 냉각 유지 보수 면제 내장 분자 펌프를 사용하여 진공도가 10-10mmHg에 달합니다.질량 스펙트럼 검출기 공유 기기 진공 시스템은 사용자의 사용 원가를 크게 낮춘다
- 진공 정적 분석에서 프로그램 온도 상승 흐름법 TCD 분석으로 전환 1 분 미만
- 진공 볼륨 측정이나 유동식 TCD 측정 모드에 관계없이 Windows 플랫폼에서 데이터 수집