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FEI 스캔 전자 현미경 Apreo 재료 과학 응용

협상 가능업데이트03/20
모델
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개요
FEI 스캔 전자 현미경 Apreo 재료 과학 응용
제품 정보

Apreo 재료 과학 응용

가장 풍부한 고성능 SEM


Apreo의 혁신적인 복합 렌즈 디자인은 정전기 및 자기 침몰 기술을 결합하여 전례없는 고해상도와 신호 선택을 가능하게 합니다.이로 인해 Apreo는 나노 입자, 촉매, 분말 및 나노 부품을 연구하기에 이상적인 플랫폼이되었으며 자성 샘플의 성능을 저하시키지 않습니다.

Apreo는 기울기, 작동 거리가 짧거나 민감한 샘플에 사용될 때에도 탁월한 재료 명암비를 제공하는 독특한 렌즈 내배산란 탐지의 혜택을 받습니다.신형 복합 렌즈는 에너지 필터링을 통해 명암비를 더욱 높이고 절연 샘플 이미징에 사용되는 전하 필터링을 추가했다.옵션 저진공 모드는 현재 최대 샘플 창고 압력이 500Pa로 가장 까다로운 절연체를 영상화할 수 있다.

Apreo는 복합 말단 렌즈, 고급 탐지 및 유연한 샘플 처리 등의 이점을 통해 향후 연구 과제를 해결할 수 있는 뛰어난 성능과 다기능성을 제공합니다.



Apreo SEM의 이점 경험

  • 독자적인 복합 말단 렌즈는 전자빔 감속 없이 모든 시료(기울기 또는 지형 측정 시에도)에서 우수한 해상도(1kV 전압에서 1.0nm)를 제공한다.
  • 효과가 큰 백산란 탐지 - 낮은 전압과 전자빔 전류 및 기울기 각도로 전자빔의 민감한 샘플을 TV 속도로 영상화하는 경우에도 항상 좋은 재료 명암비를 보장합니다.
  • 매우 유연한 프로브 - 각 프로브 섹션에서 제공되는 정보를 결합하여 중요한 명암비 또는 신호 강도를 얻을 수 있습니다.
  • 샘플 창고의 압력이 최대 500Pa인 저진공 모드를 포함한 다양한 전하 완화 전략으로 모든 샘플의 이미지를 만들 수 있습니다.
  • 탁월한 분석 플랫폼은 높은 전자빔 전류를 제공하며 반점이 매우 작다.샘플 창고는 세 개의 EDS 탐지기, 공통 EDS 및 EBSD 및 분석에 최적화된 저진공 시스템을 지원합니다.
  • 샘플 처리 및 탐색은 매우 간단하며 다용도 샘플 스탠드와 Nav-Cam+를 갖추고 있습니다.
  • 고급 사용자 안내, 사전 설정 및 실행 취소 기능을 통해 새 사용자에게 전문가 수준의 결과를 제공합니다.