독일 체이스장 발사 스캔 전자 현미경 Sigma 시리즈 제품 - 화프 공용

유연한 탐색, 4단계 워크플로우, 고급 분석 성능

고급 분석 성능과 필드 발사 스캐닝 기술을 결합하여 성숙한 Gemini 전자 광학 소자를 활용합니다.다양한 탐지기 옵션: 입자, 표면 또는 나노 구조 이미징에 사용됩니다.Sigma 반자동 4단계 워크플로우는 이미징 및 분석 단계를 설정하여 효율성을 높이는 데 많은 시간을 절약합니다.

선명한 이미지를 위한 유연한 프로브

• 고급 탐지 기술을 사용하여 요구 사항에 맞게 Sigma를 사용자 정의하고 모든 샘플을 나타냅니다.
  

• in-lens 쌍탐지기를 이용하여 형상과 성분 정보를 얻다.
  

• 차세대 2차 탐지기를 이용하여 최대 50% 의 신호 이미지를 얻는다.가변 압력 모드에서 Sigma의 혁신적인 C2D와 가변 압력 탐지기를 사용하여 저진공 환경에서 최대 85% 명암비의 선명한 이미지를 얻을 수 있습니다.
  

자동화 가속 워크플로우

• 4단계 워크플로우를 통해 Sigma의 모든 기능을 제어할 수 있습니다.다중 사용자 환경에서 빠른 이미징 및 절감 교육에서 먼저 샘플을 탐색한 다음 이미징 조건을 설정합니다.

• 먼저 샘플을 탐색한 다음 이미징 조건을 설정합니다.
  

• 다음으로 샘플에 관심이 있는 영역을 최적화하고 자동으로 이미지를 수집합니다.마지막으로 워크플로의 마지막 단계를 사용하여 결과를 시각화합니다.
  

고급 분석 현미경

• 스캔 전자 현미경을 기본 분석과 결합: Sigma의 일류 백산란 기하학 탐지기는 분석 성능, 특히 전자 빔에 민감한 샘플을 크게 향상시킵니다.

• 테스트 빔의 절반과 두 배의 속도 조건에서 분석 데이터를 가져옵니다.

• 8.5mm의 짧은 분석 작업 거리와 35° 협각의 이점을 통해 음영 없는 완전한 분석 결과를 얻을 수 있습니다.
  

검증된 Gemini 기술 기반

• Gemini 렌즈의 설계 결합은 광학 성능에 대한 전장과 자기장의 영향을 고려하고 샘플에 대한 전장의 영향을 최소화합니다.이것은 자기 샘플에 대한 이미징에서도 뛰어난 효과를 얻을 수 있습니다.
  

• Gemini in-lens의 탐지는 신호 탐지의 효율성을 보장하며 2차 감지(SE)와 백산란(BSE) 소자를 통해 동시에 영상 시간을 줄입니다.
  

• Gemini 빔 가속기 기술은 작은 탐지기 크기와 높은 노이즈 비율을 보장합니다.

선명한 이미지를 위한 유연한 프로브

• 새로운 탐지 기술을 이용하여 모든 샘플을 표징하다.
  

• 고진공 모드에서 혁신적인 ETSE와 in-lens 탐지기를 이용하여 형상과 고해상도의 정보를 얻는다.
  

• 가변 압력 모드에서 가변 압력 2차 전자 및 C2D 탐지기를 사용하여 예리한 이미지를 얻습니다.
  

• aSTEM 탐지기를 사용하여 고분율 투과 이미지를 생성합니다.
  

• BSD 또는 YAG 탐지기를 이용한 성분 분석.

부품

SmartEDX

올인원 스펙트럼 분석 솔루션 제공

SEM 이미징 기술만으로는 부품이나 샘플을 완전히 이해할 수 없다면 연구자들은 SEM에 분광기 (EDS) 를 사용하여 현미경 분석을 수행해야합니다.저전압 응용에 최적화된 에너지 스펙트럼 솔루션을 통해 원소 화학 성분의 공간 분포 정보를 얻을 수 있습니다.이점:

• 일반적인 현미경 분석 응용을 최적화하고 질화규소 창의 우수한 투과율 때문에 경원소의 저에너지 X선을 탐지할 수 있다.

• 워크플로우 부트의 그래픽 사용자 인터페이스는 사용 편의성과 다중 사용자 환경에서의 반복성을 크게 개선합니다.

• 완벽한 서비스 및 시스템 지원 - Chies 엔지니어가 설치, 예방 유지 관리 및 무상수리를 원스톱으로 제공합니다.

라만 이미징 및 스캐닝 렌즈 연결 시스템

완벽하게 통합된 라만 이미징

데이터에 라만 스펙트럼 및 이미징 결과를 추가하여 더 풍부한 표징 정보를 얻을 수 있습니다.차이스 Sigma 300을 확장하여 코크스 라만 이미징 기능을 제공하면 샘플에서 고유한 화학 지문 정보를 얻을 수 있어 성분을 식별할 수 있습니다.

• 분자 및 결정 구조 정보 식별

• 3D 분석이 가능하며 필요한 경우 SEM 이미지, 라만 스캔 이미지 및 EDS 데이터를 연관시킬 수 있습니다.

• 완벽한 통합 RISE를 통해 고급 SEM 및 라만 시스템의 이점을 경험할 수 있습니다.