히타치 UV-VIS-NIR 자외선/가시/근적외선 분광 광도계 UH4150

특징:

검출기의 파장을 전환할 때 작은 신호 차이가 발생하며, 이렇게 하더라도 UH4150은 고정밀 측정을 실현할 수 있다。

포인트 볼에 장착된 여러 측정기는 자외선-가시적-근적외선의 파장 범위 내에서 측정할 수 있다.히타치의 전문적인 포인트 볼 구조 기술과 신호 처리 기술 등을 사용하기 때문에 검출기 전환 시 (신호 수준의 차이) 흡광도 값의 변화를 작게 낮춘다.

히타치의 고성능 프리즘 - 래스터 이중 단색기 시스템은 저잡잡한 산광과 저편광을 실현할 수 있다.

UH4150은 프리즘-래스터(P-G) 듀얼 단색기의 광학 시스템을 채택하여 U-4100 광학 시스템의 특징을 계승한다.프리즘-래스터(P-G) 시스템은 일반적인 래스터-래스터(G-G) 시스템에 비해 S와 P의 편광 강도는 크게 변하지 않았다.UH4150은 투과율과 반사율이 낮은 샘플에서도 저소음 측정이 가능하다.

평행 빔은 반사광과 산란광의 정확한 측정을 실현할 수 있다.

입사각은 고체 샘플의 거울면 반사율 측정에 매우 중요하다.회중 빔의 경우 렌즈의 초점 거리 등에 따라 입사각이 다르기 때문에 전도성 다층막이나 프리즘 같은 광학 필름의 시뮬레이션 설계 값은 실제 측정값과 다를 수 있다.

그러나 평행 빔의 경우 시료에 비해 입사각이 항상 동일하여 고정밀 거울면 반사율 측정을 실현했다.또한 평행 빔은 확산율(안개도) 평가와 렌즈 투과율 측정에 사용될 수 있다.

다양한 측정 목적에 적합한 다양한 측정기를 제공합니다.

8 가지 재료, 크기 및 모양에 따라 포인트 볼을 사용할 수 있습니다.*2*3

새로운 인체공학적 설계를 채택하다.

견본실 문을 개선하여 조작성을 높이다.샘플과 액세서리를 쉽게 교체할 수 있도록 인체공학적으로 설계됐다.

다양한 U-4100 액세서리와 호환됩니다.

일반 액세서리는 두 가지 모델에 적용됩니다.U-4100형 부속품도 UH4150형 *4에서 부속품을 탈부착할 수 있기 때문에 더 많은 측정 유형에 적합하다.

U-4100형보다 더 높은 샘플 통량.

UH4150은 U-4100형 광학 시스템의 고성능을 계승하는 동시에 더 높은 통량 측정을 제공한다.이전 모델의 기기는 1nm 데이터 간격으로 측정할 때 스캔 속도가 600mm/min이어야 합니다.UH4150형은 1200nm/min의 스캐닝 속도에서 1nm 간격으로 측정할 수 있어 측정 시간이 현저히 단축된다.*5UH4150은 약 2분 이내에 240nm에서 2600nm까지 측정할 수 있다. 태양열 반사재와 같은 자외선-가시-근적외선 파장 범위에서 측정해야 하는 시료에 특히 효과적이다.

시스템 제품 라인:

포인트 볼 검사 시스템

다양한 60mm 포인트 볼을 사용할 수 있습니다.선택 사항: 150mm 포인트 볼 또는 각도 연속 가변 절대 반사 액세서리 (여기에 나열된 것은 60mm 표준 포인트 볼)

직사광 검측 시스템

직사광 검출기는 분광 광도계에 내장되어 있다.다양한 포인트 볼 및 각도 연속 가변 절대 반사 액세서리와 같은 직사광 검출기를 대체하는 추가 옵션 검출기를 제공합니다.

사양