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히타치 데스크탑 전자 현미경 전경 TM4000/TM4000Plus

협상 가능업데이트07/10
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개요

히타치 TM4000 스캐닝 렌즈의 독특한 저진공 시스템으로 시료는 아무런 처리 없이 빠르게 관찰할 수 있습니다.TM4000 최적화는 5kV, 10kV, 15kV 세 가지 서로 다른 전압에서의 관찰 모드를 제공하며, 각 모드에서 전류 4단을 조정할 수 있고, 4분할 백산란 탐지기를 장착하여 네 가지 서로 다른 방향의 이미지 정보를 수집할 수 있으며, 샘플에 대해 다양한 모드 영상을 진행할 수 있다.

제품 정보

    히타치 데스크탑 선글라스 제품 소개

    히타치 TM4000 스캐닝 렌즈의 독특한 저진공 시스템으로 시료는 아무런 처리 없이 빠르게 관찰할 수 있습니다.TM4000 최적화는 5kV, 10kV, 15kV 세 가지 서로 다른 전압에서의 관찰 모드를 제공하며, 각 모드에서 전류 4단을 조정할 수 있고, 4분할 백산란 탐지기를 장착하여 네 가지 서로 다른 방향의 이미지 정보를 수집할 수 있으며, 샘플에 대해 다양한 모드 영상을 진행할 수 있다.새로운 SEM-MAP 탐색 기능과 함께 선글라스 그림을 보고 형식으로 내보낼 수 있습니다.대형 샘플 창고를 갖추고 최대 샘플 직경 80mm, 두께 50mm를 수용할 수 있다.

    TM4000Plus는 TM4000에 고감도 저진공 2차 전자프로브 UVD를 추가한 것으로, 저진공 환경에서 이미지 품질이 뛰어나다.TM4000Plus는 2차 전자 이미지와 백산란 전자 이미지를 중첩하여 실시간으로 표시할 수 있으며, 가장 많은 샘플 정보를 얻을 수 있다.다양한 액세서리 옵션과 다양한 추가 기능

    주요 매개변수

    1.관찰 조건: 5kV/10kV/15kV (모두 4단 조정 가능),EDX

    2. 배율 확대: 10×~100000×

    3. 관찰모드: 도체(TM4000Plus), 표준모드, 전하모드 제거

    4. 탐지기: 4 분할 백산란 탐지기, 저진공 2차 전자 탐지기(TM4000Plus)


    서비스 범위:

    테스트 항목

    Test Item

    서비스 범위

    Scope

    미시적 형상 관찰

    고객의 요구에 따라 샘플의 지정 구역, 지정 형상을 관찰하고 분석하여 배수를 확대한다<10,000배;액체 및 휘발성 물질을 테스트할 수 없다

    요소 분석

    측정 범위/정밀도: Li3~Cf98

    적용 범위: 고중합물, 금속, 무기물, 분말 등;

    정성 반정량;

    액체 및 휘발성 물질을 테스트할 수 없다

    단면 분석

    1. 단열 시료에 대하여 광학 현미경과 스캐닝 전자 현미경을 사용하여 관찰하다

    2. 주요 판단 단열 방식(근성, 아삭아삭함), 균열 근원, 확장 방향 등

    3. 보고서에는 브레이크 이미지와 분석 결과가 포함되어 있지만 브레이크 원인을 판단할 수 없습니다.

    이물질 실효 분석

    금속 부식 산물 분석

    금속 도금층 석출물 정성 분석

    매체 오염 이물질류 분석

    도금층 두께 및 성분 정성 분석

    부분 진공 도금0.8μm다음 도금 두께, 진행SEM최대 해상도의 두께 테스트0.01μm; 및 다층 도금선 스캐닝 성분 분석


    응용 분야

    생명 과학

    재료 과학

    화학

    전자 제조

    식품공업