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Leica EM RES101 다기능 이온 빔 연마기

협상 가능업데이트02/24
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개요
Leica EM RES101 다기능 이온 빔 연마기
제품 정보

다기능 이온 빔 연마기 Leica EM RES101

Leica EM RES101은 전체 컴퓨터로 제어되는 이온 빔 연마 시스템으로 사용자 유연성이 매우 높으며 장치 하나로 TEM, SEM 및 LM 샘플을 제조할 수 있습니다.
Leica EM RES101은 이온 연마를 진행하며 방향은 0 ° - 90 ° 로 조정할 수 있습니다.이온원 에너지는 가변적이어서 고에너지 또는 저에너지 이온 빔 연마를 할 수 있다.내장형 CCD 카메라가 있어 시료 처리 과정을 두루 살펴볼 수 있다.또한 교환 예비 추출실을 갖추고 있어 샘플 창고의 지속적인 고진공을 보장한다.
이점

샘플 제조

투사묘전과 스캐닝 선글라스 샘플을 제작하기에 적합하며, 실험실에 두 대의 다른 기기를 설치할 필요가 없어 결과적으로 원가를 절약할 수 있다.

LAN 호환

LAN을 통해 사용자는 외부에서 샘플 처리 과정을 조작하고 감시할 수 있어 사용자에게 큰 유연성과 편리성을 제공할 수 있다.

액체 질소 냉동 시스템

선택 가능한 LN2 냉각 시스템은 Cu 재질의 전문 샘플 테이블을 사용하여 샘플이 실제로 냉각되도록 보장하고 열에 민감한 샘플을 샘플 처리할 때 허상이 발생하지 않도록 하며 TEM 및 SEM 샘플 처리에 적용되어 다양한 종류의 샘플을 처리하는 방법을 더욱 유연하고 변화무쌍하게 한다.

전자동 다기능 이온 빔 연마 시스템으로 이온 감소가 가능합니다 (TEM용).이온 빔 광택, 이온 부식, 시료 이온 세척 및 경사 절단 (SEM용) 등

이온빔 에너지 1keV 10keV, 2자루의 이온총은 각각 ±45 ° 기울일 수 있으며, 샘플대 기울기 각도는 -120 ° 에서 210 °, 이온빔 가공 각도는 0 ° 에서 90 °, 샘플 평면 흔들기 각도는 <360 °, 수직 흔들기 거리는 ± 5mm

최대 샘플 크기 수용 가능: 직경 25mm, 높이 12mm

샘플대 옵션: TEM 샘플대(Ø3.0mm 또는 2.3mm), FIB 샘플세척대, SEM 샘플대, 슬로프 절단 샘플대(샘플35° 또는 90° 슬로프 절단) 및 해당 냉동 샘플대

오일 진공 시스템이 전혀 없으며 샘플실에는 예비 추출실이 있어 샘플 교환 시간을 보장합니다<1분

전체 컴퓨터 제어, 터치 스크린 조작 인터페이스, 내장 비디오 관찰 시스템, 실시간으로 샘플이 나오는 과정을 관찰할 수 있다