일본 이학 ZSX Primus IV 파장 분산 X선 형광 분광기

상조사설계를 채용하여 더는 광로를 오염시키고 번거로움을 정리하며 정리시간을 늘리는 등 문제를 걱정할 필요가 없다.모든 ZSX 시리즈의 장점: 이중 진공 시스템, 자동 진공 제어, mapping/마이크로 영역 분석, 초경량 원소 초강력 감도 및 자동 코어 라인 세척 등.ZSX PrimusIV는 복잡한 샘플을 유연하게 분석합니다.30μm 초박형 창광관으로 경원소 분석 감도 확보.최첨단 매핑백은 동질성과 혼합물을 감지할 수 있다.ZSX Primus IV는 21세기 실험실 과제를 완전히 충족합니다.

Features 분석 범위:

Be - U 작은 설치 공간 마이크로 영역 분석 사진 디자인 30 μm 초박형 창 Mapping: 요소 분포 He 밀봉: 샘플실은 항상 진공 환경에서

ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV는 베릴륨 (Be) 에서 우라늄 (U) 까지의 주요 및 보조 원자 원소를 신속하게 정량 측정 할 수있는 튜브 이상의 연속 파장 분산 X선 형광 (WDXRF) 분광기이며 샘플 유형 - 최소 기준입니다.

새로운 ZSX 멘토링 전문가 시스템 XRF 소프트웨어

ZSX 지침은 XRF 측정 및 데이터 분석의 모든 측면을 지원합니다.정확한 분석은 전문가만 할 수 있습니까?아니-그건 과거야.ZSX Guidance 소프트웨어에는 복잡한 설정을 처리할 수 있는 XRF 전문 지식과 숙련된 전문가 지식이 내장되어 있습니다.운영자는 샘플, 분석 구성 요소 및 표준 구성에 대한 기본 정보를 입력하기만 하면 됩니다.최소 중첩, 최적 배경 및 보정 매개변수 (선 중첩 포함) 가 있는 측정선은 질량 스펙트럼을 사용하여 자동으로 설정할 수 있습니다.

뛰어난 경량 요소 XRF 표현 및 역방향 광학 신뢰성

ZSX Primus IV는 위의 혁신적인 옵티컬 구성을 제공합니다.샘플실 유지 관리로 인해 더 이상 오염된 빔 경로나 가동 중지 시간에 대해 걱정할 필요가 없습니다.광학 소자 이상의 기하학적 구조는 청결 문제를 제거하고 사용 시간을 연장합니다.ZSX Primus IV WDXRF 분광기는 업계에서 가장 얇은 터미널 창 튜브로 뛰어난 경량 요소(낮은 Z) 검출 한계를 제공하는 30마이크로미터의 튜브를 사용하여 가장 복잡한 샘플을 분석하는 유연성과 뛰어난 성능을 제공합니다.

매핑 및 다중 XRF 분석

ZSX Primus IV는 균일성과 패키지를 감지하기 위해 최첨단 측량 포장과 결합하여 다른 분석 방법으로는 쉽게 얻을 수 없는 분석 통찰력을 제공하기 위해 샘플에 대한 간단하고 상세한 XRF 스펙트럼 측정 연구를 수행 할 수 있습니다.사용 가능한 다중 분석은 균일하지 않은 재료에서 샘플링 오차를 제거하는 데도 도움이 됩니다.

EZ-scan 소프트웨어를 사용한 SQX 기본 매개 변수

EZ 스캔을 사용하면 사용자가 사전에 설정하지 않고 알 수 없는 샘플에 대해 XRF 요소를 분석할 수 있습니다.시간 절약 기능은 마우스를 몇 번 클릭하고 샘플 이름을 입력하기만 하면 됩니다.SQX 기본 매개변수 소프트웨어와 함께 가장 정확하고 빠른 XRF 결과를 제공합니다.SQX는 선 중첩을 포함하여 모든 행렬 효과를 자동으로 보정합니다.SQX는 또한 광전자 (빛과 초경량 원소), 다른 분위기, 불순물 및 다른 샘플 크기에 대한 2차 자극 효과를 교정 할 수 있습니다.일치하는 라이브러리와 완벽한 스캔 분석 프로그램을 사용하면 정확도를 높일 수 있습니다.

피쳐

• Be에서 U로의 요소 분석

• ZSX 멘토링 전문가 시스템 소프트웨어

• 디지털 다중 채널 분석기(D-MCA)

• 일반 측정을 위한 EZ 분석 인터페이스

• 파이프 위의 광학 부품은 오염 문제를 최소화한다

• 좁은 설치 공간, 제한된 랩 공간

• 미량 분석은 500 μm 미만의 샘플을 분석 할 수 있습니다.

• 30μ 튜브는 뛰어난 경량 요소 성능 제공

• 맵 기능의 요소 지형 / 분포

• 헬륨 가스 밀봉은 광학 부품이 시종 진공 상태에 있다는 것을 의미한다

•