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제타 전위 및 나노 입도 분석기의 원리와 특징
날짜:2024-12-19읽기 :3
Zeta 전위 및 나노 입도 분석기 입도 측정: 동적 광백 산란 기술과 전체 양정 미씨 이론 처리 분자량 측정: 수력 직경 또는 두바이 곡선 기술: 필름 전극, 마이크로 전장 전세 측정,"Y"형 광섬유 프로브 설계, 이상 도플러 주파수, 제어 비교 방법, 빠른 부립엽 변환 알고리즘, 비구형 입자 교정 인자.
옵티컬 시스템:
3mW780nm 반도체 고정위치 레이저는 사다리꼴 스텝을 통해 광섬유에 직접 샘플을 비추고 고정위치에서 실리콘 광다이오드로 백산사광 신호를 받아 광로를 교정할 필요가 없다.
Zeta 전위 및 나노 입도 분석기는 주로 다음과 같은 특징을 가지고 있습니다.
1. 채택한 동적 광 산란 기술, 에너지 보급 개념을 도입하여 전통적인 광자 관련 스펙트럼법을 대체하는"Y'형 광섬유 광로 시스템, 사파이어 측정 창을 통해 부상 시스템 중의 입자 입도 분포를 직접 측정하고, 전류를 탑재한 상황에서 필름 전극과 대응하여 마이크로 전장을 생산하며, 동일한 체계의 제타 전위를 측정하여 샘플의 교차 오염과 농도 변화를 피한다.
2. 이상도보르 주파수 이동 기술을 사용하여 전통적인 방법에 비해 광신호의 강도가 몇 개 높은 수량급을 획득하여 분석 결과의 신뢰성을 높인다.＊의 제어 가능한 비교 방법 (CRM) 은 다분자 주파수에서 발생하는 에너지 스펙트럼을 세밀하게 분석하여 분석의 민감도를 확보할 수 있다.
3. 초단립의 부유액에서의 산란광정설계는 다중산란현상의 교란을 감소시키고 고농도용액에서의 나노립자시험의 정확성을 보장한다.
4. 빠른 푸리엽 변환 알고리즘(FFT, Fast FourierTransform Algorithm Method)은 검출 시스템에서 얻은 스펙트럼을 신속하게 처리하여 분석 시간을 단축한다.
5. 막전극설계는 열효과가 발생하지 않도록 하고 과립전영속도를 정확하게 측정할수 있다.
6, 비색 그릇, 모세관 전기 수영장 또는 추가 전극 풀은 Zeta 전위 조작 키를 클릭하면 1 분 이내에 분석 결과를 얻을 수 있습니다.
7. 다양한 공간 비트 저항이 산란 광신호에 대한 방해를 제거한다. 예를 들어 광로에서 서로 다른 광학 부품 간의 전송 손실, 샘플 풀 위치가 다르기 때문에 발생하는 오차, 비색 그릇 벽의 굴절과 오염, 분산 매체의 영향, 다중 산란의 쇠퇴 등 민감도를 높인다.
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