고온 4탐침 저항률 측정기

하나.BEST-351 고온 쿼드 프로브 저항률 테스트 시스템 개요:
4프로브 이중 전기 조합 측정 방법을 사용하여 측저항과 저항률 시스템과 고온 상자를 결합하여 고온 4프로브 테스트 프로브 장치와 PC 소프트웨어 대수의 처리와 측정 제어를 배치하여 반도체 재료의 전도율이 온도 변화 측정에 대한 요구를 해결하고 소프트웨어는 온도와 저항, 저항률, 전도율 데이터의 변화 곡선 도표와 과정 데이터 값의 보고서 분석을 실시간으로 그려낸다.
2.적용 업종:
사용처: 기업, 대학교, 과학 연구 부서의 전기 전도 세라믹, 실리콘, 게르마늄 단결정 (막대, 웨이퍼) 저항률, 실리콘 외연층, 확산층과 이온 주입층의 블록 저항 측정 및 전기 전도 유리 (ITO) 및 기타 전기 전도 필름 등 신소재 블록 저항, 저항률과 전도율 측정 데이터.
쌍전측사탐침기는 직선사탐침의 이위측량을 운용한다.설계는 단결정 실리콘 물리적 테스트 방법을 참조하고 미국 A.S.T.M 표준을 참조합니다.
셋.모델 및 매개 변수:
사양 모델 FT-351A FT-351B FT-351C
블록 저항 범위 10-5~2×105 오메가 10-6~2×105 오메가 10-4~1×107 오메가
저항률 범위 10-6~2×106오메가-cm 10-7~2×106오메가-cm 10-5~2×108오메가-cm
테스트 전류 범위 0.1 μA. μA. 0 μA, 100 μA, 1 mA, 10 mA, 100 mA 1A, 100 mA, 10 mA, 1 mA, 100 uA, 10 uA, 1 uA, 0.1 uA 10 mA?---200 pA
전류 정밀도 ±0.1% 판독 ±0.1 판독 ±2%
저항 정밀도 ≤ 0.3% ≤ 0.3% ≤ 10%
PC 소프트웨어 인터페이스 표시: 저항, 저항, 방저항, 온도, 단위 환산, 온도 계수, 전류, 전압, 프로브 모양, 프로브 간격, 두께, 전도도
테스트 방식 이중 전기 측정
쿼드 프로브 작동 전원 AC 220V ±10%.50Hz <30W

오차 ≤ 3% (표준 샘플 결과 ≤ 15%
온도 (옵션)
상온-400 ℃;600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃
분위기 보호 (기체 고객 자체) 상용 기체는 다음과 같다: 헬륨 (He), 네온 (Ne), 아르곤 (Ar), 크립톤 (Kr), 제논 (Xe), 라돈 (Rn), 모두 무색, 무취, 기체 상태의 단일 원자 분자이다
온도 정밀도 충온치: ≤ 1-3 ℃;온도 조절 정밀도: ± 1°C
온도 상승 속도: 상온에서 400 ℃ - 800 ℃ 를 시작하는 데 15분이 걸립니다.800 ℃ -1200 ℃ 는 30 분 걸립니다.1400℃-1600℃ 250분~300분 소요
고온 재료는 복합 세라믹 섬유 재료를 사용하여, 진공 성형을 하고, 고온에서 가루가 떨어지지 않는 특징을 가지고 있다.
PC 소프트웨어
테스트 PC 소프트웨어 세트, USB 통신 인터페이스, 소프트웨어 인터페이스 동시 표시, 분석, 저장 및 인쇄 데이터!
전극 재료 텅스텐 전극 또는 몰리브덴 전극
프로브 간격
직선형 프로브, 프로브 중심 간격: 4mm; 샘플 요구 사항 13mm 이상 지름
표준 외(옵션):
컴퓨터 및 프린터 1세트;2. 표준 저항 1-5개

고온 전원:
전원 공급 장치: 400-1200℃ 전원 공급 장치 220V, 전력 4KW; 380V;1400℃-1600℃ 전원 공급 장치 380V, 9KW 출력:

패키지: 고체 상태, 액체 상태, 기체 상태, 입자형 저항, 저항률, 전도도 측정 등의 재료 상태 해결